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Mini/ MicroLEDs被視為次世代的重要顯示技術，而從LED發展到Mini/ MicroLED，各段製程面對LED晶粒的微型化，皆有不同的挑戰。
在測試段，除了精度須相對應提升外，由於同尺寸晶圓的晶粒數量巨幅增加，測試效率成了一大挑戰。若以過往的測試方式，測試時間將從數小時劇增為數十個小時或者更多，耗時亦增加成本。惠特科技開發多通道量測同步化的平行測試解決方案，結合prober系統與光電性量測技術，可達到多晶同步測試，提供穩定、快速且精準的測試。目前MiniLED測試設備已量產，穩定出貨給客戶，MicroLED的測試設備則已與多家客戶進行測試合作中。
而因應工業自動化與產業長期缺工問題，除了單機設備外，惠特多年前推出業界唯一LED後段點測及分選自動化解決方案。為提升產能與效率，進一步投入智慧製造，加速產業升級，更開發點測與分選設備之中央控制系統，透過智慧物聯網技術，整合生產即時監控及遠端操作功能，除可克服過去對於現場人力的大量需求外，同時也降低產線人員移動操作的延遲時間。
所開發的中央控制系統，包含資料獲取、視覺化監控、統計資料、遠端連線機台操作等主要功能，可提供即時廠區配置資訊、即時稼動、報警等資訊，也可透過系統遠端監控設備與進行除錯等操作。視覺化介面設計，可提供客戶更快速、清楚的取得關鍵資訊。
隨著人力短缺與高齡化社會問題浮現，市場對於自動化整合解決方案的需求遽增，該公司從開發自動化運輸到中央控制系統，一步步加速發展產線自動化的整合服務，未來將持續整合更多智慧化服務，逐步打造完整的智慧製造解決方案。
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